无线电电子学论文_红外探测器集成光学系统低温

文章目录

0 引言

1 红外探测器集成光学技术

1.1 红外探测器集成光学技术概述

1.2 集成光学透镜组装配

2 集成光学透镜组低温MTF测试方法研究

2.1 集成光学透镜组低温MTF测试杜瓦结构设计

2.2 集成光学透镜组低温MTF测试杜瓦装配步骤

3 集成光学透镜组低温评价系统搭建

3.1 集成光学透镜组低温测试结果

3.2 集成光学透镜组低温MTF测试

4 结论

文章摘要:红外探测器集成光学技术是将部分成像光学系统集成在杜瓦结构内部,以保证F数较小、探测目标信号能量大的同时,消除光学系统体积庞大和复杂带来的不便因素。本文研究的红外探测器集成光学低温评价技术是在不反复拆除杜瓦的前提下,直接评估集成光学系统低温MTF,缩短测试周期。进行集成光学透镜组精密装配,在此基础上开发独立的集成光学系统低温MTF评价装置,并搭建MTF测试光路,获得集成光学透镜组温度分布梯度,为集成光学透镜组的装配精度和光学性能提供可靠数据。

文章关键词:

论文分类号:TN215

文章来源：《光学技术》 网址: http://www.gxjszz.cn/qikandaodu/2021/1223/894.html